| Поиск по каталогу |
| Версия для печати |
| Обозначение: | ГОСТ 18986.10-74 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности |
| Название англ.: | Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance |
| Дата актуализации текста: | 07.11.2012 |
| Дата актуализации описания: | 07.11.2012 |
| Дата издания: | 01.05.2004 |
| Дата введения в действие: | 01.07.1976 |
| Дата последнего изменения: | 18.05.2011 |
| Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:
метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более; метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн |
| Список изменений: | №1 от 01.04.1979 (рег. 16.02.1979) «Срок действия продлен» №2 от 01.02.1983 (рег. 27.08.1982) «Срок действия продлен» |
| Расположен в: | |





