| Поиск по каталогу |
| Версия для печати |
| Обозначение: | ГОСТ 19834.2-74 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости |
| Название англ.: | Semiconductor emitters. Methods for measurement of radiant intensity and radiance |
| Дата актуализации текста: | 07.11.2012 |
| Дата актуализации описания: | 07.11.2012 |
| Дата издания: | 01.02.1984 |
| Дата введения в действие: | 01.01.1976 |
| Дата последнего изменения: | 18.05.2011 |
| Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения, в том числе бескорпусные и устанавливает методы измерения силы излучения: метод непосредственной оценки;
метод замещения; методы измерения энергетической яркости: прямой и косвенный |
| Список изменений: | №1 от 01.07.1984 (рег. 06.12.1983) «Срок действия продлен» №2 от 01.10.1987 (рег. 01.06.1987) «Срок действия продлен» |
| Расположен в: | |









